Advanced tomographic methods in materials research and engineering

• Tác giả: John Banhart
• Ngôn ngữ: eng
• ISBN-10: 0199213240
• ISBN-13: 978-0199213245
• Ký hiệu phân loại: 620.11272 Engineering mechanics and materials
• Thông tin xuất bản: Oxford ; New York : Oxford University Press, 2008
• Mô tả vật lý: xxv, 462 p. : , ill. (some col.) ; , 24 cm. + , 1 CD-ROM
• Bộ sưu tập: Khoa học ứng dụng
• ID: 106354
• Chủ đề: 1. Materials--Research; 2. Nondestructive testing; 3. Tomography--Industrial applications

Includes bibliographical references and index.