X-ray optics made by X-ray lithography: Process optimization and quality control

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Frieder Johannes Koch

Ngôn ngữ: eng

ISBN-13: 978-3731506799

Ký hiệu phân loại:

Thông tin xuất bản: Karlsruhe : KIT Scientific Publishing, 2017

Mô tả vật lý: 1 electronic resource (X, 138 p. p.)

Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở

ID: 226653

Grating based X-ray phase contrast imaging sets out to overcome the limits of conventional X-ray imaging in the detection of subtle density differences and opens a way to characterize a sample's microstructure without the need for ultrahigh spatial resolution. The technique relies on grating structures with micrometric periods and extreme aspect ratio - their fabrication by X-ray lithography with optimal structure quality is the topic of this work.
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2020 THƯ VIỆN HUTECH