Phase-Contrast and Dark-Field Imaging

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Simon Zabler (Ed.)

Ngôn ngữ: eng

ISBN-13: 978-3038972846

ISBN-13: 978-3038972853

ISBN: books9783038972853

Ký hiệu phân loại: 621.3673 Electrical, magnetic, optical, communications, computer engineering; electronics, lighting

Thông tin xuất bản: Basel, Switzerland : MDPI - Multidisciplinary Digital Publishing Institute, 2019

Mô tả vật lý: 1 electronic resource (146 p.)

Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở

ID: 235356

 The intent of this Special Issue is to provide a framework with which scientists in several different disciplines, related to phase-contrast and dark-field imaging, can illustrate their ideas and results. The articles are reviews or very recent scientific reports
  they address newcomers in the field, as well as experts and professors in fields of X-ray physics, electron, and phase-contrast X-ray imaging.
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2024 THƯ VIỆN HUTECH