Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization

 0 Người đánh giá. Xếp hạng trung bình 0

Tác giả: Samir Kumar, Chandra Shakher Pathak

Ngôn ngữ: eng

ISBN-13: 978-1839682292

ISBN-13: 978-1839682308

ISBN-13: 978-1839682315

ISBN: intechopen.94185

Ký hiệu phân loại: 502.82 Microscopy

Thông tin xuất bản: London, UK : IntechOpen, 2022

Mô tả vật lý: 1 electronic resource (274 p.)

Bộ sưu tập: Tài liệu truy cập mở

ID: 269897

This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, including scientists, engineers, graduate students, postdoctoral fellows, and scientific professionals working in specialized fields such as AFM, photovoltaics, 2D materials, carbon nanotubes, nanomaterials, and Raman spectroscopy.
Tạo bộ sưu tập với mã QR

THƯ VIỆN - TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHỆ TP.HCM

ĐT: (028) 71010608 | Email: tt.thuvien@hutech.edu.vn

Copyright @2020 THƯ VIỆN HUTECH